低溫卷繞試驗機將導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后,立即以均勻之速度繞卷于規(guī)定直徑之圓桿上,斷面積100平方毫米以上之試料,則先行繞卷,再冷卻相同之時間后,立即以及反方向繞卷于圓桿上,取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。
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